产品简介

LD-DTA330 差热分析仪 DTA试验仪 是采用差热(re)分析(xi)法（DTA），在程(cheng)序控制温度(du)下(xia)，测量(liang)物(wu)质(zhi)与参比物(wu)之间(jian)的(de)温度(du)差与温度(du)关系的(de)分析仪器，用于研究(jiu)样品与参比物(wu)之间(jian)的(de)温度(du)(△T)随温度(du)或时间的变化关系。

适用范围

LD-DTA330 差热分析仪 DTA试验仪适用于研究样(yang)品(pin)与参比物之间的温度(△T)随温度或时间(jian)的变化(hua)关系，广泛应用(yong)于各种材料的DTA试验(yan)。

在 DTA 试(shi)验中，样品温(wen)度(du)的(de)(de)变(bian)化是由于相转变(bian)或反应的(de)(de)吸热(re)或放热(re)效应引起(qi)的(de)(de)。如：相转变(bian)，熔化，结晶结构的(de)(de)转变(bian)，沸腾(teng)， 升华，蒸发，脱氢反(fan)应(ying)，断裂或分解反(fan)应(ying)，氧(yang)化(hua)或还原反(fan)应(ying)，晶格(ge)结构的(de)破坏和其他化(hua)学反(fan)应(ying)。

主要(yao)技术(shu)参数

1. 温度范围: 室温~1150℃；

2. 量(liang)程范围: 0～±2000μ V；

3. DTA 精(jing)度(du): 0.1μ V；

4. 升温速率(lv): 0.1～100℃/min；

5. 温度分辨率(lv): 0.01℃；

6. 温度(du)准确度(du): ±0.1℃ ；

7. 温度重(zhong)复性: ±0.1℃；

8. 温度控制(zhi):

1. 升温：程(cheng)序控制(zhi)，可根据需要进(jin)行参数的(de)调整(zheng)

2. 恒温(wen)：程序控制，恒温(wen)时间任(ren)意设定

9. 炉体结构：炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升(sheng)降炉体，精度高(gao)，易(yi)于(yu)操作；

10.  气氛控(kong)制：内部程序自动(dong)切(qie)换；

11.  数据接口：标(biao)准USB 接(jie)口  配套数据(ju)线和操作软件；

12.  显示方式：24bit 色 7 寸 LCD 触摸(mo)屏显示(shi)；

13.  参数标准(zhun)：配(pei)有标准(zhun)物，带有一键(jian)校准(zhun)功能，用户可自行(xing)对温(wen)度进(jin)行(xing)校正；

14.  软件(jian)：带多点温度校正及热(re)焓校正；可(ke)以导出EXECL数(shu)据、PDF报告(gao)；

15.  工作电(dian)源：AC 220V/50Hz；

16.  通讯(xun)：USB 双(shuang)向(xiang)通信(xin)；

17.  曲线扫(sao)描(miao)(miao)：升温扫(sao)描(miao)(miao)、恒(heng)温扫(sao)描(miao)(miao)、降温扫(sao)描(miao)(miao)；

18.  仪(yi)器液晶屏界面带三点温度(du)校正功能，满足(zu)高中低不同温度(du)段测试。            

配置清单